“表面粗さ”と“輪郭形狀”の2つの測定が可能です。タッチパネル採用で「測定條件の切り替え」等の操作性に優れ、多種多様なワークの測定に素早く対応できます。
設備特點： KOSAKA ET200A 基于 Windows 操作系統為多種不同表面提供**的形貌分析，包括半導體硅片、太陽能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實現高精度表面形貌分析應用。ET200A 能**可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應力等多種表面形貌技術參數。 KOSAKA小坂粗糙度儀，粗度計，粗度儀 KOSAKA小坂粗糙度輪廓一體機 KOSAKA小壇輪廓儀 KOSAKA小坂臺階儀，膜厚儀，薄膜測厚儀KOSAKA小坂圓度儀，真圓度儀，圓柱度儀 KOSAKA小坂測量儀配件 KOSAKA小坂非接觸式表面形貌測量裝置 KOSAKA小坂微細深孔測量裝置 KOSAKA小坂晶圓檢測裝置 KOSAKA小坂關節管測量儀 KOSAKA小坂探針卡檢測設備 KOSAKA小坂高精度貼片機 KOSAKA小坂傳感器